Supplier | Part No | Manufacturer | Price | Stock | |
Geefook (shenzhen) Electronic Co., Ltd | SN74BCT8373ADW Подробнее | Texas Instruments | 7.01$ | 35000 | |
SN74BCT8373ANT Подробнее | Texas Instruments | 5.55$ | 35000 | |
SN74BCT8373ADWR Подробнее | Texas Instruments | 3.43$ | 35000 | |
SN74BCT8373ADWRE4 Подробнее | Texas Instruments | | 35000 | |
SN74BCT8373ADWRG4 Подробнее | Texas Instruments | | 35000 | |
ООО ВКС-Электроникс | SN74BCT8373ADWR | Texas Instruments | | 2066 | |
Icseek Global Limited | SN74BCT8373ADW Оригинальный и наличный и новый | TI | | 4250 | |
SN74BCT8373ADWR Оригинальный и наличный и новый | TI | | 4250 | |
HongKong Teyou Huicheng Electronic Technology Limited | SN74BCT8373ADW Package: : SOP24/7.5MM; , D/c: : 22+ | TI | | 45000 | |
SN74BCT8373ADWR Package: : SOP24/7.5MM; , D/c: : 22+ | Rochester | | 45000 | |
Digi-ic_SMART PIONEER electronic | SN74BCT8373ADW SN74BCT8373A IEEE STD 1149.1 (JT Подробнее | Texas Instruments | | 8535 | |
SN74BCT8373ANT BUS DRIVER Подробнее | Texas Instruments | | 8775 | |
SN74BCT8373ADWR BUS DRIVER Подробнее | Texas Instruments | | 8892 | |
SN74BCT8373ADWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC Подробнее | Texas Instruments | | 7890 | |
SN74BCT8373ADWRE4 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC Подробнее | Texas Instruments | | 8000 | |
DV ATOM | SN74BCT8373ADW 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8373ADWR 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8373ADWE4 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8373ADWRE 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8373ADWG4 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8373ADWRG 4-6 недель | Texas Instruments | | | |
Censtry Electronics Limited. | SN74BCT8373ADW SOIC (DW)-24 IEEE Std 1149.1 (JTAG) Boundary-Scan Test Device With Octal D-Type Latches | ti | | | |
AN-CHIP | SN74BCT8373ANT микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP 4-5 недель, цена по запросу; , Package: : N/A; , Min order: : 1; , D/c: : DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 23946 | |
SN74BCT8373ADW микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC 4-5 недель, цена по запросу; , Package: : N/A; , Min order: : 1; , D/c: : DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24282 | |
SN74BCT8373ADWR микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC 4-5 недель, цена по запросу; , Package: : N/A; , Min order: : 1; , D/c: : DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24754 | |
SN74BCT8373ADWG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC 4-5 недель, цена по запросу; , Package: : N/A; , Min order: : 1; , D/c: : DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24285 | |
SN74BCT8373ADWE4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC 4-5 недель, цена по запросу; , Package: : N/A; , Min order: : 1; , D/c: : DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24283 | |
SN74BCT8373ANTE4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP 4-5 недель, цена по запросу; , Package: : N/A; , Min order: : 1; , D/c: : DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24299 | |
SN74BCT8373ADWRE4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC 4-5 недель, цена по запросу; , Package: : N/A; , Min order: : 1; , D/c: : DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24755 | |
SN74BCT8373ADWRG4 микросхема интегральная электронная IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC 4-5 недель, цена по запросу; , Package: : N/A; , Min order: : 1; , D/c: : DC: 20+/21 | Texas Instruments | | 24865 | |
Shenzhen Augswan Electronics Co., LTD. | SN74BCT8373ADW IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Texas Instruments | 6.08$ | 7929 | |
SN74BCT8373ADWR IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Texas Instruments | 3.91$ | 11301 | |
SN74BCT8373ADWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Texas Instruments | | 5952 | |
SN74BCT8373ANT IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | Texas Instruments | 5.54$ | 4365 | |
SHENZHEN SHENGYU ELECTRONICS TECHNOLOGY LIMITED | SN74BCT8373ADW IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Texas Instruments | 5.6$ | 7662 | |
SN74BCT8373ADWR IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Texas Instruments | 3.35$ | 11068 | |
SN74BCT8373ADWRE4 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Texas Instruments | | 4495 | |
SN74BCT8373ADWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Texas Instruments | | 7467 | |
SN74BCT8373ANT IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | Texas Instruments | 6.5$ | 4229 | |
NTK Mostek | SN74BCT8373ADW /TI/ moq>10000 При стоимости строки от $1000 Вы можете запросить специальную цену! Подробнее | | mult: 1491.8 RUB | 8-9 нед. | |
Kontest | SN74BCT8373ADW IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC Подробнее | | 133.92 RUB | 4 | |
SN74BCT8373ADW IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC Подробнее | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8373ADWE4 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC Подробнее | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8373ADWG4 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC Подробнее | Texas Instruments | | | |
|
Acme Chip Technology Co.,Limited | SN74BCT8373ADW IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Texas Instruments | 5.53$ | 6803 | |
SN74BCT8373ADWR IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Texas Instruments | 4.02$ | 12104 | |
SN74BCT8373ADWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Texas Instruments | | 4966 | |
SN74BCT8373ANT IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | Texas Instruments | 6.26$ | 5803 | |
"SINERGY-DISTRIBUTION" LLC | SN74BCT8373ADW IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8373ADWR IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8373ADWRE4 IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8373ANT IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8373ADWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Texas Instruments | | | |
SN74BCT8373ADWR BUS DRIVER | Rochester Electronics, LLC | | 33469 | |
SN74BCT8373ANT BUS DRIVER | Rochester Electronics, LLC | | 2169 | |
ООО "ЭНЕРГОФЛОТ" | SN74BCT8373ADW | | 120.9 RUB | 5 | |
Delta Electronics | SN 74BCT8373ADW | | 116.26 RUB | 5 | |
ООО "Интегральные схемы" | SN74BCT8373A | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ADW | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ADWE4 | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ADWG4 | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ADWR | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ADWRE4 | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ADWRG4 | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ANT | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ANTE4 | | | from 7 days | |
Aspect | SN74BCT8373A | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ADW | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ADWE4 | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ADWG4 | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ADWR | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ADWRE4 | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ADWRG4 | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ANT | | | from 7 days | |
SN74BCT8373ANTE4 | | | from 7 days | |
Ypa Electronic | SN74BCT8373ADW Specialty Function Logic Device w/Octal D-Type Latches -> Подробнее | Texas Instruments | 10.27$ | | |
MK | SN74BCT244DWR sn74bct8373a - >для заказа или запроса нажмите на> Подробнее | Texas Instruments | 331 RUB bulk: 302 RUB | 981 | |
SN74BCT543DWR sn74bct8373a - >для заказа или запроса нажмите на> Подробнее | Texas Instruments | 635 RUB bulk: 607 RUB | 888 | |
SN74BCT25245 DW (б/г) sn74bct8373a - л.25 >для заказа или запроса нажмите на> Подробнее | TI | | 394 | |
CHIP DIGGER LIMITED | SN74BCT8373ADW IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Texas Instruments | 7.92$ | 7981 | |
SN74BCT8373ADWR IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC | Texas Instruments | 3.39$ | 10270 | |
SN74BCT8373ADWRG4 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | Texas Instruments | | 7718 | |
SN74BCT8373ANT IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | Texas Instruments | 7.16$ | 5509 | |